的情况出现，那么多半是由老化或者内部线缆断裂造成的，本文将为大家探讨大功率

  成熟的IGBT产品一般基于长期的验证和反馈调整，通常是非常可靠的。出现的故障多是由于随机因素，或者是不可抗的老化等因素。而不成熟的产品则一定要在早期方案论证阶段考虑充分。特别的重要的是，要依靠对元器件物理特性，技术方案的理论实质等关键点的认识。确保解决方案的后继可调整范围，能够很好的满足各种应用条件多样性和器件参数分布离散性的需要。保证产品能够在可控范围内改进，而不至于被迫做出颠覆性的调整。

  还有一种变相的IGBT损坏，其保护电路完好，在更换了IGBT之后性能值标回到正常状态，这样的一种情况有很大的可能是元件老化和失效造成的。当然，这其中也不排除工艺安装方面的问题，一些有经验的工程师则认为，是IGBT工作区间的中心参数或特性设置出现了问题，或者说参数分布区间的控制不合理。

  考虑到器件参数的离散性，就总会有一些处于最差情况下的IGBT要承受更大的冲击。导致老化加速而更容易损坏。比如，由于上述原因最后导致的;关断尖峰较大(可能是状态不稳定导致在一些条件下出现较大尖峰，而并不全是每时每刻都较其他的IGBT大。)

  引起的齐纳击穿损伤(高频的过压不一定一次导致损坏。也会像静电损伤那样累积性的性能直线下降。或者说是加快老化。)再或者是开关速度较低，导致的IGBT温度相比来说较高而加速老化。

  当然，换一个全新的设备肯定会解决大部分的IGBT损坏问题。但这种方式并不能解决所有问题，更重要的是搞清损坏的原因和修理方法。本文虽然没有给出非常详细的问题解决方案，但是却为设计者们提供了多种的问题成因，在了解这些成因之后相信我们大家能够更加熟练的运用IGBT。